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otsukael光譜干涉式晶圓測厚儀SF-3的介紹OPTM 是一種通過使用顯微鏡光譜測量微小區(qū)域的絕對反射率來實(shí)現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析的設(shè)備。各種薄膜、晶圓、光學(xué)材料等鍍膜、多層膜厚度的無損、非接觸測量?？梢赃M(jìn)行1秒/點(diǎn)的高速測量。此外，它配備了軟件，即使是初次使用的用戶也可以輕松分析光學(xué)常數(shù)。。
產(chǎn)品型號：SF-3廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2023-04-14訪 問 量：969
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otsukael光譜干涉式晶圓測厚儀SF-3的介紹
otsukael光譜干涉式晶圓測厚儀SF-3的介紹
OPTM 是一種通過使用顯微鏡光譜測量微小區(qū)域的絕對反射率來實(shí)現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析的設(shè)備。
各種薄膜、晶圓、光學(xué)材料等鍍膜、多層膜厚度的無損、非接觸測量。可以進(jìn)行1秒/點(diǎn)的高速測量。此外，它配備了軟件，即使是初次使用的用戶也可以輕松分析光學(xué)常數(shù)。。
膜厚測量所需的功能集成在測量頭中
使用顯微光譜法進(jìn)行高精度絕對反射率測量（多層膜厚度、光學(xué)常數(shù)）
每點(diǎn)1秒以內(nèi)的高速測量
實(shí)現(xiàn)顯微鏡下寬測量波長范圍（紫外到近紅外）的光學(xué)系統(tǒng)
區(qū)域傳感器安全機(jī)制
一個(gè)簡單的分析向?qū)?，即使是初次使用的用戶也可以進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析
配備可自定義測量順序的宏功能
也可以分析復(fù)雜的光學(xué)常數(shù)（多點(diǎn)分析法）
300mm載物臺(tái)兼容
能夠從低亮度到高亮度進(jìn)行高速、高精度測量的光譜輻射亮度計(jì)。
使用電子冷卻線性陣列傳感器，的光譜設(shè)計(jì)和信號處理電路在寬亮度范圍和波長范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)了低噪聲、高精度測量。
| - 輻射 (W/sr/m 2 ) | - 色域（NTSC 比例）*1 |
| - 亮度 (cd/ m2 ) | - 反應(yīng)速度*2 |
| - 色度坐標(biāo) xy [符合JIS Z8724 ] | - 亮度 (J) *3 |
| - 色度坐標(biāo) U'V' [符合JIS Z8781-5 ] | - 亮度 (Q) *3 |
| - 相關(guān)色溫 | - 飽和度 (s) *3 |
| - CIE 顏色系統(tǒng) 2°/10° | - 色度 (C) *3 |
| - 三刺激值 XYZ | - 色彩度（M）*3 |
| - 偏差 | - 等效亮度值*4 |
| - 光譜數(shù)據(jù)的四種算術(shù)運(yùn)算 | |
| - 光譜數(shù)據(jù)的功能處理 |
LCD、PDP、有機(jī)EL、大尺寸LED視覺等顯示器件的
光譜數(shù)據(jù)、亮度、色度、相關(guān)色溫測量
照明光源（如燈）的光譜數(shù)據(jù)、亮度、色度和相關(guān)色溫的測量
作為各種亮度和色度測量儀器的標(biāo)準(zhǔn)
物體的非接觸式顏色測量
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